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                  飛馳(北京)科學儀器有限公司

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                  LT3600智能激光粒度儀

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                  聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


                  真理光學儀器有限公司專注于Gao端顆粒表征儀器的研發和制造,產品涵蓋激光(衍射法)粒度分析儀、動態光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀,既有實驗室儀器,又有在線檢測系統。真理光學秉持“科學態度,工匠精神”,為用戶提供世界Xian進的Gao端產品和服務。

                  真理光學匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領域的頂尖人才。張福根博士現任本公司董事長兼首Xi科學家,還擔任全國顆粒表征及分檢與篩網標準化技術委員會副主任委員、天津大學兼職教授,曾擔任中國顆粒學會副理事長,同時也是“歐美克”字號公司的創始人。曾擔任英國某粒度儀器公司中國總經理20余年的秦和義先生擔任本公司商務總經理,中國顆粒學會青年理事潘林超博士、陳進博士擔綱公司的研發主力。

                  激光(衍射法)粒度儀雖然已得到廣泛應用,但它并不Wan美,不論是科學基礎方面,還是技術方案方面。真理光學的團隊針對當前市面上儀器存在的不足,展開了系統的理論研究和技術創新,發現了衍射光斑(愛里斑)的反常變化現象(ACAD),解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球,并給出了反常區(不能測量粒徑)的一般公式;研究了衍射儀器的測量上限和下限;研究了顆粒折射率偏差對測量結果的影響,發明了兩種根據散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術方案(Zhuan利),解決了前向超大角測量盲區的問題,使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統一的反演算法(專有技術),消除了不同計算模式給出不同結果的尷尬;設計出了高達20Kfps的超高速并行數據采樣電路,使干法測量的精度不亞于濕法測量,對高速噴霧場的測量(時間)分辨率也更高。

                  在納米粒度及Zeta電位儀方面,真理光學提出了比相位分析法(PALS)更先進的余弦擬合相位分析法(CF-PALS),用光纖分束取代了傳統的平板分束鏡分束,用光纖內光干涉取代了自由空間干涉,使Zeta電位的測量重復性大幅度提高。

                  Linkoptik Instruments specializes in the development and manufacture of high-end particle characterization instruments, including laser (diffraction) particle size analyzers, dynamic light scattering nano particle size and zeta potential analyzers, and particle image analyzers, both laboratory instruments and online inspection systems. Linkoptik Instruments upholds the "scientific attitude and craftsmanship" to provide customers with the world's advanced high-end products and services.

                  Linkoptik Instruments has gathered the top talents in the field of particle characterization in China, represented by Dr. Fugen Zhang. Dr. Zhang is the Chairman and Chief Scientist of our company, and is also the Vice Chairman of the National Technical Committee for Particle Characterization and Sieving and Sieve Standardization, a part-time professor of Tianjin University, and the Vice Chairman of the Chinese Particle Society. Mr. Qin He Yi, who was the general manager of a particle size instrument company in China for more than 20 years, is the commercial general manager of the company, and Dr. Pan Linchao and Dr. Chen Jin, the young directors of the Chinese Particle Society, are the main R&D team of the company.

                  Although laser (diffraction) particle size measurement has been widely used, it is not perfect, both in terms of scientific basis and technical solutions. The team at Truth Optics has conducted systematic theoretical research and technological innovation to address the shortcomings of the current instruments on the market, discovered the phenomenon of anomalous variation of diffraction spot (Airy spot) (ACAD), explained why polystyrene microspheres around 3 μm cannot be measured, and gave a general formula for the anomalous zone (not measuring particle size); studied the upper and lower measurement limits of diffraction instruments; studied the effect of particle The influence of refractive index deviation on the measurement results was studied, and two methods for estimating the refractive index of particles based on the scattered light distribution were invented; an oblique trapezoidal window technical solution (patented) was proposed, which solved the problem of the blind area of the forward oversized angle measurement and significantly improved the submicron particle measurement level of the diffraction instrument; a unified inversion algorithm (proprietary technology) was proposed, which eliminated the embarrassment of different calculation modes giving different results; the design of The ultra-high speed parallel data sampling circuit of up to 20Kfps has been designed, which makes the accuracy of dry measurement no less than that of wet measurement, and the measurement (time) resolution of high-speed spray field is also higher.

                  In nanometer particle size and zeta potential measurement, Linkoptik Instruments has proposed a more advanced cosine fitted phase analysis method (CF-PALS) than PALS, replacing the traditional flat beam splitter mirror beam splitting with fiber optic beam splitting, and replacing free space interference with optical interference inside the fiber, which has greatly improved the repeatability of zeta potential measurement.

                   

                   

                  專注于顆粒(包含粉體顆粒、乳膠顆粒和液體霧滴)測試技術的研發和儀器的生產銷售

                    粒度測試儀是真理光學技術團隊基于二十多年粒度表征和應用經驗開發的新一代粒度分析系統,該系統加持多項創新技術和,測量速度高達每秒20000次,而且Hydrolink分散進樣器更是采用了雙電機驅動,內置高效率超聲,強力攪拌和離心循環泵分開獨立控制,適用于各種類型的復雜樣品,對于密度大和分布寬的金屬粉末和硬質合金等樣品,也能輕松分散和進樣并獲得可靠的高重現性結果。
                   
                    粒度測試儀功能說明:
                   
                    1、功能強大的軟件系統
                   
                    粒度測試儀是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,數據處理有的計算機分析系統軟件完成,同時由打印機完成測試報告的輸出。
                   
                    2、*的光路一體化技術的光學變換設計,結合*的光路一體化結構,使光路更加穩定;使用,無須調整。的機械設計與加工工藝,使儀器的結構更緊湊合理,流線型的設計,美觀大方,使用與維護更為方便;有效的屏蔽與抗干擾技術使儀器的電氣等性能更加穩定。
                   
                    3、粒度測試儀儀*的光電接收器陣列設計,有效提高了儀器的分辨率。其中,主向光電接收器,共有71個光電池,大探測角達21.5°;非均勻交叉排列的側向及后向光電接收器,共9個光電池大后向探測角度達135°,使測試下線到0.04mm。
                   
                    4、耐用
                   
                    采用波長635nm,功率3mw半導全激光器,使用壽命在25000個小時以上有效提高了激光粒度分布儀的使用和存放時間。
                   
                    5、的H.Golub分布反演算法
                   
                    粒度測試儀采用的全Mie散射理論作為基礎,并采用優良的H.Golub分布反演算法,結合*的儀器硬件設計,使您測試的樣品無論是單分布的,還是混合的,都能夠使測試數據更加、快捷。
                   
                    粒度測試儀具有以下優勢:
                   
                    1、符合ISO13320衍射法測量技術標準;
                   
                    2、*的光路配置,超大連續的物理測量角度,無檢測盲區;
                   
                    3、改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧的分辨率和穩定性;
                   
                    4、無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.02微米至3600微米;
                   
                    5、采用全息信號同步處理技術,實時測量速度高達每秒20000次,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息;
                   
                    6、采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,克服了氦氖氣體激光器預熱時間;
                   
                    7、采用偏振空間濾波技術,摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器;
                   
                    8、金屬拉絲外殼設計,兼顧耐用性和提高儀器的抗干擾能力。
                   
                    粒度測試儀廠家概述:
                   
                    珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產,公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才,其涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、和商業運營服務。真理光學秉持以科學為先導,運用的技術手段,通過精細的管理,為客戶提供的粒度表征及應用技術解決方案,其代表產品LT3600粒度儀適用于藥物的顆粒粒度表征分析。在原料藥的生產中,粒度是其一項*的指標。根據不同的片劑溶出度的要求,原料藥的粒度應該控制在不同的粒度段,以達到藥效理想化。


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